Türkçe Bilgi: Boundary scan

Boundary scan

Boundary scan, yeni paketleme teknolojileri nedeniyle gittikçe komplike hale gelen baskılı devre kartlarının (PCB) üzerindeki fiziksel erişim problemlerini çözebilmek için 1980'lerin sonlarında geliştirilen bir test tekniğidir. Boundary scan aynı zamanda entegre devrelerin pin durumlarını izlemede, voltajlarını ölçmede, ya da entegre devrelerin alt bloklarını analiz etmede düzeltme tekniği olarakta kullanılır. Joint Test Action Group (JTAG) boundary scan testi için, 1990 yılında IEEE Std. 1149.1-1990 olarak standartlaşan bir tanımlama yaptı. O zamandan beri bu standart elektronik cihaz şirketleri tarafından tüm dünyada kabul edilmiştir. Boundary scan JTAG olarak da bilinir. Bir çok dijital entegre devre boundary scan standardına uyumludur. Bu entegre devreler boundary scan yoluna eklendiği zaman baskılı devre kartında gömülü bir iletişim yolu oluşturulur buda birçok önemli fayda sağlar. Boundary scan testini uygulamak için entegrenin gerçek fonksiyonunu bilmeye gerek yoktur.

Boundary Scan Hücresi

Tüm birincil giriş ve birincil çıkış sinyalleri birden çok amaçlı “boundary scan hücreleri” adı verilen bir hafıza elemanı ile sonlandırılırlar. Cihazdaki hücrelerin birincil girişleri “giriş hücreleri (input cells)” olarak; hücrelerin birincil çıkışları da “çıkış hücreleri (output cells)” olarak adlandırılırlar.

Test

Standart operasyonlarda boundary scan hücreleri aktif değildir, sinyaller entegrenin içine normal olarak yayılır. Test modu süresince bütün giriş sinyalleri analiz için tutulur ve tüm çıkış sinyalleri test edilir. Bu hücrelerin kontrolü test access port (TAP) kontrol birimi ile sağlanır.

Kaynaklar

Vikipedi

Boundary Scan

Boundary Scan Hakkında Detaylı Bilgi

Boundary scan

Boundary Scan Hücresi

Test

Kaynaklar

Görüşler ve Yorumlar